T-450 鍍層測(cè)厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀。它非常適用于無(wú)損測(cè)量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時(shí)還能檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

產(chǎn)品性能

穩(wěn)定性 :T-450 有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

無(wú)需制備樣品 : 無(wú)論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣品，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析。

綜合性能 : 鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計(jì)功能

技術(shù)參數(shù)

T-450 鍍層測(cè)厚儀工作特點(diǎn)

·測(cè)量 5 層 (4 層鍍層 + 底材層 ) 鍍層，同時(shí)分析 15 種元素， 自動(dòng)修正 X 射線重疊譜線

·測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好，測(cè)量結(jié)果精確至 uin

·快速無(wú)損測(cè)量，測(cè)量時(shí)間短，最快 10s 內(nèi)得出測(cè)量結(jié)果

·可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析

·材料鑒別和分類檢測(cè)，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析

·強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值等

·結(jié)果輸出：直接打印或一鍵導(dǎo)出到 PDF、Excel 文件；報(bào)告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計(jì)圖表、客戶信息等

·測(cè)量位置預(yù)覽功能；高分辨率彩色 CCD 樣品觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大倍數(shù)為 30 倍

·提供全球服務(wù)及技術(shù)支持